GB/T 6624-1995
Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 6624-1995
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1995
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 6624-2009
- Ultima versión
- GB/T 6624-2009
- Alcance
- Esta norma especifica el método para inspeccionar visualmente la calidad de la superficie de las obleas pulidas de una cara de un solo cristal de silicio (en lo sucesivo denominadas obleas pulidas) bajo ciertas condiciones de iluminación. Esta norma se aplica a la inspección de la calidad de la superficie de obleas pulidas de silicio.
GB/T 6624-1995 Historia
- 2009 GB/T 6624-2009 Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual
- 1995 GB/T 6624-1995 Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual
