IEC 60748-11-1:1992
Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11; sección 1: examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos

Estándar No.

IEC 60748-11-1:1992

Fecha de publicación

1992

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60748-11-1:1992

Alcance

El propósito de las pruebas es verificar que los materiales internos, la construcción y la mano de obra cumplan con los requisitos de la especificación aplicable. Las pruebas normalmente se utilizarán antes de tapar o encapsular sobre una base de inspección del 100% para d

IEC 60748-11-1:1992 Historia

• 1992 IEC 60748-11-1:1992 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 11; sección 1: examen visual interno de circuitos integrados semiconductores, excluidos los circuitos híbridos