DIN 50437:1979
Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; medición del espesor de la capa epitaxial de silicio mediante el método de interferencia infrarroja

Estándar No.

DIN 50437:1979

Fecha de publicación

1979

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50437:1979

Alcance

Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; medición del espesor de la capa epitaxial de silicio mediante el método de interferencia infrarroja Pruebas de materiales semiconductores minerales; medición del espesor de los depósitos de silicio epitaxial utilizando

DIN 50437:1979 Historia

• 1979 DIN 50437:1979 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; medición del espesor de la capa epitaxial de silicio mediante el método de interferencia infrarroja