DIN 50442-1:1981
Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la estructura superficial de láminas semiconductoras monocristalinas circulares; rebanadas cortadas y lapeadas

Estándar No.

DIN 50442-1:1981

Fecha de publicación

1981

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Ultima versión

DIN 50442-1:1981

Alcance

Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la estructura superficial de láminas semiconductoras monocristalinas circulares; rebanadas cortadas y traslapadasPruebas de materiales semiconductores minerales; determinación de la estructura de la superficie

DIN 50442-1:1981 Historia

• 1981 DIN 50442-1:1981 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la estructura superficial de láminas semiconductoras monocristalinas circulares; rebanadas cortadas y lapeadas