GB/T 4377-1996
Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 4377-1996

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1996

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Estado

 2018-08

Remplazado por

GB/T 4377-2018

Ultima versión

GB/T 4377-2018

Reemplazar

GB 4377-1984

Alcance

Esta norma especifica los principios básicos de los métodos de prueba de características eléctricas para reguladores de voltaje de circuitos integrados semiconductores (en adelante, dispositivos). Esta norma se aplica a las pruebas de las características eléctricas de reguladores de voltaje de circuitos integrados semiconductores, no a dispositivos de doble terminal (puerto único).

GB/T 4377-1996 Historia

• 2018 GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
• 1996 GB/T 4377-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje.
• 0000 GB 4377-1984