IEC 60410:1973
Planes de muestreo y procedimientos para inspección por atributos

Estándar No.

IEC 60410:1973

Fecha de publicación

1973

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60410:1973

Alcance

Establece planes y métodos. Cuando así lo especifique la autoridad responsable, se hará constar en el pliego de condiciones, contrato, instrucciones de inspección u otros documentos y regirán las disposiciones aquí establecidas. Incluye una clasificación de

IEC 60410:1973 Historia

• 1973 IEC 60410:1973 Planes de muestreo y procedimientos para inspección por atributos