IEC 60749:1996
Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
Inicio
IEC 60749:1996
Estándar No.
IEC 60749:1996
Fecha de publicación
1996
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
2002-04
Remplazado por
IEC 60749/AMD1:2000
Ultima versión
IEC 60749:2002
Reemplazar
IEC 47/1394/FDIS:1996
IEC 60749:1984
IEC 60749 AMD 1:1991
IEC 60749 AMD 2:1993
IEC 60749:1996 Historia
2002
IEC 60749:2002
Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
2001
IEC 60749/AMD2:2001
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos; Enmienda 2
2000
IEC 60749/AMD1:2000
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos; Enmienda 1
1996
IEC 60749:1996
Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
1993
IEC 60749/AMD2:1993
Dispositivos semiconductores; métodos de prueba mecánicos y climáticos; enmienda 2
1991
IEC 60749/AMD1:1991
Dispositivos semiconductores; métodos de prueba mecánicos y climáticos; enmienda 1
1984
IEC 60749:1984
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos.
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