Norma británica Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos Especificación genérica: Circuitos integrados monolíticos Anexo 1. Detección PREFACIO A1 PROPÓSITO A2 APARATO A3 PROCEDIMIENTOS A3.1 Introducción A3.1.1 General A3.1.2 Secuencia de inspección A3.1.3 Clases de limpieza del aire A3.1.4 Control de inspección A3.1.5 Aumento A3.1.6 Definiciones A3.1.7 Interpretaciones A3.2 Condición de prueba "A" A3.2.1 Defectos de metalización (alto aumento) A3.2.2 Fallos de capa(s) de difusión y pasivación (alto aumento) A3.2.3 Trazado y defectos de la matriz (gran aumento) A3.2.4 Inspección de unión (bajo aumento) A3.2.5 Cables internos (bajo aumento) A3.2.6 Condiciones del paquete (aumento según se indica) A3.2.7 Defectos de vidriado (alto aumento) A3.2.8 Aislamiento dieléctrico ( alto aumento) A3.2.9 Resistencia de película (alto aumento) A3.3 Condiciones de prueba "B" A3.3.1 Defectos de metalización (alto aumento) A3.3.2 Fallas en las capas de difusión y pasivación (alto aumento) A3.3.3 Trazado y matriz defectos (gran aumento) A3.3.4 Inspección de enlaces (bajo aumento) A3.3.5 Cables internos (bajo aumento)
BS CECC 90000 Addendum No. 1:1983 Historia
1983BS CECC 90000 Addendum No. 1:1983 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación genérica: circuitos integrados monolíticos - Inspección visual interna