IEC 60748-21:1997
Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 21: Especificaciones seccionales para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos sobre la base del procedimiento de aprobación de calificación

Estándar No.

IEC 60748-21:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60748-21:1997

Reemplazar

IEC 47A/444/FDIS:1996 IEC 60748-21:1991

Alcance

Esta especificación seccional se aplica a los circuitos integrados de película y a los circuitos integrados de película híbridos, fabricados como circuitos de catálogo o como circuitos personalizados cuya calidad se evalúa sobre la base de la aprobación de calificación. El objeto de esta especificación es presentar valores preferidos para clasificaciones y características, seleccionar de la especificación genérica las pruebas y métodos de medición apropiados y brindar requisitos generales de desempeño que se utilizarán en especificaciones detalladas para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos derivados de esta especificación. El concepto de valores preferidos es directamente aplicable a los circuitos del catálogo, pero no necesariamente se aplica a los circuitos personalizados. La severidad de las pruebas y los requisitos prescritos en las especificaciones detalladas que se refieren a esta especificación seccional son de nivel de desempeño igual o superior, porque no se permiten niveles de desempeño más bajos. Asociadas con esta especificación hay una o más especificaciones detalladas en blanco, cada una referenciada por un número IEC. Una especificación detallada en blanco que se haya completado como se especifica en 2.3 de esta especificación forma una especificación detallada. Estas especificaciones detalladas se utilizan para otorgar la aprobación de calificación de circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos y para la inspección de conformidad de calidad de acuerdo con el sistema IECQ. NOTA - Para los procedimientos de prueba hay dos alternativas disponibles: método A o método B. Sin embargo, no está permitido cambiar los métodos entre las pruebas del método A, respectivamente B. En general, el método A es más adecuado para películas integradas basadas en componentes pasivos. circuitos integrados, mientras que el método B es más aplicable a circuitos integrados de película basados en tecnología de circuitos integrados semiconductores.

IEC 60748-21:1997 Historia

• 1997 IEC 60748-21:1997 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 21: Especificaciones seccionales para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos sobre la base del procedimiento de aprobación de calificación
• 1991 IEC 60748-21:1991 Circuitos integrados de dispositivos semiconductores Parte 21: Especificación seccional para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos sobre la base del procedimiento de aprobación de calificación (IECQ QC 760100) (Edición 1.0)