IEC 61649:1997
Pruebas de bondad de ajuste, intervalos de confianza y límites de confianza inferiores para datos distribuidos de Weibull

Estándar No.
IEC 61649:1997
Fecha de publicación
1997
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
 2008-08
Remplazado por
IEC 61649:2008
Ultima versión
IEC 61649:2008
Alcance
Esta norma internacional proporciona métodos numéricos para complementar las técnicas gráficas al realizar una prueba de bondad de ajuste para tiempos distribuidos de Weibull hasta la falla y brinda un procedimiento aproximado para obtener intervalos de confianza para los parámetros de la distribución de Weibull de dos parámetros cuando estos se estiman por máximo. probabilidad. Además, proporciona un procedimiento recomendado para obtener límites de confianza más bajos para los fractiles del 10 % de la vida útil y para la función de confiabilidad. Esta norma es aplicable siempre que una muestra aleatoria de elementos se someta a una prueba de tiempos de falla con el propósito de estimar medidas de confiabilidad del desempeño de la población de la cual se extrajeron estos elementos.

IEC 61649:1997 Historia

  • 2008 IEC 61649:2008 Análisis de Weibull
  • 1997 IEC 61649:1997 Pruebas de bondad de ajuste, intervalos de confianza y límites de confianza inferiores para datos distribuidos de Weibull



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