IEC 60747-5-3:1997
Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.

Estándar No.

IEC 60747-5-3:1997

Fecha de publicación

1997

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002

Ultima versión

IEC 60747-5-3:2009

Alcance

Esta parte de IEC 60747 describe los métodos de medición aplicables a los dispositivos optoelectrónicos que no están destinados a ser utilizados en sistemas o subsistemas de fibra óptica.

IEC 60747-5-3:1997 Historia

• 2009 IEC 60747-5-3:2009 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
• 2009 IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.
• 1997 IEC 60747-5-3:1997 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición.

IEC 60747-5-3:1997 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-3: Dispositivos optoelectrónicos. Métodos de medición. ha sido cambiado a IEC 60747-5-5:2007 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos - Fotoacopladores.