IEC 61747-5:1998
Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos.

Estándar No.

IEC 61747-5:1998

Fecha de publicación

1998

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Ultima versión

IEC 61747-5:1998

Remplazado por

IEC 61747-20-1:2015 IEC 61747-10-1:2013 IEC 61747-10-2:2014

Reemplazar

IEC 47C/203/FDIS:1998 IEC 60747-5:1992 IEC 60747-5 AMD 1:1994 IEC 60747-5 AMD 2:1995

Alcance

Esta parte de GB/T 18910 enumera los métodos de prueba para dispositivos de visualización de cristal líquido, teniendo en cuenta los métodos de prueba ambientales especificados en IEC 60068 tanto como sea posible. Esta sección también cubre métodos de inspección visual para pantallas y módulos LCD. Nota 1: Esta sección se deriva de. Extraído de IEC 60749, porque la tecnología de los dispositivos de visualización de cristal líquido es completamente diferente de los dispositivos semiconductores, tales como: 　——forma y tamaño; 　——materiales y estructura utilizados; 　——función; 　——método de medición; 　——principio de funcionamiento. Nota 2: Los dispositivos incluyen módulos y pantallas LCD. El propósito de esta sección es evaluar el desempeño ambiental de los dispositivos de visualización de cristal líquido y determinar métodos de prueba óptimos unificados y valores de nivel de tensión óptimos. Si esta sección es inconsistente con las especificaciones relevantes, prevalecerán las especificaciones relevantes.

IEC 61747-5:1998 Documento de referencia

• GB/T 16464-1996 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 1: Generalidades
• GB/T 18910.1 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 1: Especificación genérica.*， 2012-12-31 Actualizar
• GB/T 2421-1999 *， 1999-10-10 Actualizar
• GB/T 2423.1-2001 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos Parte 2: Métodos de prueba Pruebas A: Frío*， 2001-07-12 Actualizar
• GB/T 2423.15-1995 Ensayos ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba Ga y orientación: Aceleración, estado estacionario
• GB/T 2423.2-2001 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos Parte 2: Métodos de prueba Pruebas B: Calor seco*， 2001-11-02 Actualizar
• GB/T 2423.22-2002 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba N: Cambio de temperatura*， 2002-06-13 Actualizar
• GB/T 2423.24-1995 Ensayos ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba Sa: Radiación solar simulada a nivel del suelo
• GB/T 2423.28-1982 Procedimientos básicos de prueba ambiental para productos eléctricos y electrónicos. Prueba T: soldadura.
• GB/T 2423.3-1993 Procedimientos básicos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Prueba Ca: calor húmedo, estado estable
• GB/T 2423.30-1999 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba XA y orientación: inmersión en disolventes de limpieza.*， 1999-08-02 Actualizar
• GB/T 2423.34-1986 Procedimientos básicos de prueba ambiental para productos eléctricos y electrónicos. Prueba Z/AD: prueba cíclica compuesta de temperatura/humedad.
• GB/T 2423.4-1993 Procedimientos básicos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Prueba Db: calor húmedo, cíclico
• GB/T 2423.5-1995 Ensayos ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba. Prueba Ea y orientación: Choque
• GB/T 2424.19-1984 Procedimientos básicos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Guía para las pruebas ambientales que simulan los efectos del almacenamiento.

IEC 61747-5:1998 Historia

• 1998 IEC 61747-5:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos.

IEC 61747-5:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos. ha sido cambiado a IEC 60747-5:1992 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos y circuitos integrados; parte 5: dispositivos optoelectrónicos.

IEC 61747-5:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos. ha sido cambiado a IEC 61747-20-1:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 20-1: Inspección visual - Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa) (Edición 1.0).

IEC 61747-5:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos. ha sido cambiado a IEC 61747-10-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 10-1: Métodos de prueba mecánicos..

IEC 61747-5:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos. ha sido cambiado a IEC 61747-10-2:2014 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 10-2: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos. Medio ambiente y resistencia..