BS EN 60512-11-1:1999
Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medida - Ensayos climáticos - Ensayo 11a - Secuencia climática

Estándar No.
BS EN 60512-11-1:1999
Fecha de publicación
1999
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS EN 60512-11-1:1999
 
Alcance
Esta sección de IEC 512-11 define un método de prueba estándar para evaluar la capacidad de un componente para funcionar de una manera específica, en un entorno específico que podría encontrarse durante el uso normal, incluido el almacenamiento. NOTA - Esta serie de documentos se encuentra en proceso de revisión; la numeración futura se da entre paréntesis.

BS EN 60512-11-1:1999 Historia

  • 1999 BS EN 60512-11-1:1999 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos - Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medida - Ensayos climáticos - Ensayo 11a - Secuencia climática

estándares y especificaciones

DIN EN IEC 60512-11-1 E:2020-01 Conectores para equipos eléctricos y electrónicos - Pruebas y medidas - Parte 11-1: Pruebas climáticas - Prueba 11a - Secuencia climática JIS C 0035:1996 Ensayos ambientales Parte 2: Métodos de ensayo Ensayo Z/ABDM: Secuencia climática IEC 60749-37:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro PN T06500-06-1989 Equipos de medición electrónicos Requisitos y pruebas climáticas DIN EN 60749-41 E:2017-04 Métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 41: Métodos de ensayo de fiabilidad para componentes de memoria no volátil STAS 8393/1-1986 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBAS AMBIENTALES Especificaciones generales BS QC 700000:1991 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes eléctricos. Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados GSO IEC 60807-3:2014 Conectores rectangulares para frecuencias inferiores a 3 MHz. Parte 3: Especificaciones detalladas para una gama de conectores con carcasas metálicas de forma IEC 61000-4-14:1999+AMD1:2001 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la fluctuación de voltaje


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