JIS Z 8754:1999
Tecnología de vacío: calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas
- Estándar No.
- JIS Z 8754:1999
- Fecha de publicación
- 1999
- Organización
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Ultima versión
- JIS Z 8754:1999
- Reemplazar
- JIS Z 8754:1988
- Alcance
- Esta norma especifica procedimientos para la calibración de detectores de fugas de espectrómetros de masas.
JIS Z 8754:1999 Historia
- 1999 JIS Z 8754:1999 Tecnología de vacío: calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas
- 1988 JIS Z 8754:1988 Calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas
Temas especiales sobre estándares y normas
Calibración de espectrometría de masas
Tasa de fuga de vacío
Tasa de fuga de vacío
Calibración de espectrometría de masas
Tasa de fuga del horno de vacío
Calibración del espectro energético.
Probador de vacío
Probador de vacío
Fuga de espectro de masas
Fuga en la caja de vacío
Detector de fugas de vacío de segunda mano.
Detector de fugas en caja de vacío
estándares y especificaciones
KS B ISO 3530:2002 tipo espectrómetro de masas
GSO ISO 3530:2013 tipo espectrómetro de masas
ISO 3530:1979 tipo espectrómetro de masas
OS GSO ISO 3530:2013 tipo espectrómetro de masas
BH GSO ISO 3530:2016 tipo espectrómetro de masas
NF X10-530:1975 tipo espectrómetro de masas.
KS A 0083-2013 Reglas generales del detector de espectrómetro de masas (tipo fuga) para el sistema de calibración
JIS Z 8754:1988 Calibración de detectores de fugas tipo espectrómetro de masas
NS-EN 1518:1998 Ensayos no destructivos. Pruebas de fugas. Caracterización de detectores de fugas de espectrómetros de masas