IEC 61000-4-17:1999
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC, prueba de inmunidad

Estándar No.

IEC 61000-4-17:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2001-08

Remplazado por

IEC 61000-4-17/AMD1:1999

Ultima versión

IEC 61000-4-17:2009

Reemplazar

IEC 77A/207/CDV:1997

Alcance

Esta parte de la norma EC 61000 define métodos de prueba para la inmunidad a la ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC de equipos eléctricos o electrónicos. Esta norma es aplicable a los puertos de alimentación de CC de bajo voltaje de equipos alimentados por sistemas rectificadores externos o baterías que se están cargando. El objetivo de esta norma es establecer una base común y reproducible para probar, en un laboratorio, equipos eléctricos y electrónicos cuando se someten a voltajes de ondulación como los generados por sistemas rectificadores y/o cargadores de baterías de servicio auxiliar superpuestos a fuentes de suministro de energía de CC. Esta norma define: forma de onda del voltaje de prueba; 　——gama de niveles de prueba; 　——generador de pruebas; 　——configuración de prueba; 　——procedimiento de prueba. La prueba que se describe a continuación se aplica a equipos y sistemas eléctricos o electrónicos. También se aplica a módulos o subsistemas siempre que la potencia nominal del equipo bajo prueba (EUT) sea mayor que la capacidad del generador de prueba especificada en la cláusula 6. Esta prueba no se aplica a equipos conectados a sistemas de cargadores de baterías que incorporan convertidores de modo conmutado. Esta norma no especifica las pruebas que se aplicarán a aparatos o sistemas particulares. Su objetivo principal es dar una referencia básica general a los comités de productos IEC. Estos comités de productos (o usuarios o fabricantes de equipos) siguen siendo responsables de la elección adecuada de la prueba y del nivel de severidad que se aplicará a sus equipos. Se utilizan procedimientos de prueba específicos para probar categorías específicas de equipos eléctricos o electrónicos, por ejemplo, equipos conectados a la red de suministro de CC de centros de conmutación telefónica; Los comités de productos relacionados deben evaluar la relevancia y aplicabilidad del procedimiento de prueba especificado en esta norma básica.

IEC 61000-4-17:1999 Historia

• 2009 IEC 61000-4-17:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a la ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• 2009 IEC 61000-4-17:1999/AMD2:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• 2002 IEC 61000-4-17:2002 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición; Ondulación en la prueba de inmunidad del puerto de alimentación de entrada de CC
• 2001 IEC 61000-4-17:1999/AMD1:2001 Enmienda 1 - Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
• 1999 IEC 61000-4-17/AMD1:1999 Enmienda 1 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-1 7: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad del puerto de alimentación de entrada de CC (Edición 1.0)
• 1999 IEC 61000-4-17:1999 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC, prueba de inmunidad