DIN 50456-3:1999
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método para la caracterización de compuestos de moldeo para componentes electrónicos. Parte 3: Determinación de impurezas catiónicas.

Estándar No.

DIN 50456-3:1999

Fecha de publicación

1999

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN 50456-3:1999

Alcance

El documento define un método para la determinación de Na, K y CA en masas de moldeo para componentes electrónicos mediante el análisis de un extracto acuoso de la masa de moldeo de resina epoxi mediante el ensayo de olla a presión según DIN 50456-2.#,,#

DIN 50456-3:1999 Historia

• 1999 DIN 50456-3:1999 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método para la caracterización de compuestos de moldeo para componentes electrónicos. Parte 3: Determinación de impurezas catiónicas.