IEC 61726:1999
Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación

Estándar No.
IEC 61726:1999
Fecha de publicación
1999
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
 2015-09
Remplazado por
IEC 61726:2015
Ultima versión
IEC 61726:2022
Reemplazar
IEC 46A/356/FDIS:1999 IEC/TR3 61726:1995
Alcance
Esta norma internacional describe la medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de prueba en cámara de reverberación, a veces denominado modo cámara agitada, adecuado para prácticamente cualquier tipo de componente de microondas y que no tiene límite de frecuencia superior teórico. Sólo está limitado a bajas frecuencias debido al tamaño del equipo de prueba, que depende de la frecuencia y es sólo uno de varios métodos para medir la atenuación de detección. A los efectos de esta norma, ejemplos de componentes de microondas son guías de ondas, desfasadores, diplexores/multiplexores, divisores/combinadores de potencia, etc.

IEC 61726:1999 Historia

  • 2022 IEC 61726:2022 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación
  • 2015 IEC 61726:2015 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación
  • 1999 IEC 61726:1999 Conjuntos de cables, cables, conectores y componentes pasivos de microondas - Medición de la atenuación del apantallamiento mediante el método de la cámara de reverberación



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