IEC TS 61945:2000
Circuitos integrados - Aprobación de líneas de fabricación - Metodología de tecnología y análisis de fallos

Estándar No.

IEC TS 61945:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC TS 61945:2000

Reemplazar

IEC 47A/523/CDV:1998

Alcance

Esta especificación técnica brinda la metodología para la tecnología y el análisis de fallas en la fabricación de circuitos integrados. Teniendo en cuenta el nivel de complejidad de las técnicas y medios a utilizar, la presente especificación técnica cubre la clasificación de varios niveles de análisis de tecnología que pueden usarse para semiconductores y define para cada nivel: 　——el objetivo a realizar (o meta) ; 　——los puntos a investigar; 　——las herramientas y técnicas necesarias para que las tecnologías actualmente disponibles realicen estos objetivos. El análisis tecnológico se utiliza para determinar la forma en que se construye un componente observándolo con una resolución adecuada, que aumenta progresivamente con el nivel de análisis. Además, permite detectar cualquier falla que pueda afectar la confiabilidad de los dispositivos en condiciones típicas de trabajo. Puede usarse para verificar la conformidad de un dispositivo con sus documentos de fabricación, pero también puede usarse para determinar las características físicas y químicas del dispositivo bajo prueba. Los puntos observados durante el análisis también pueden servir como pautas para un experto en una futura auditoría de calidad de una línea de fabricación. Utilizando medios similares o específicos de cada caso, el análisis de fallas conduce a identificar las razones físicas de una falla encontrada en un dispositivo durante una prueba o durante condiciones normales de trabajo. A través de un conocimiento profundo del componente y de sus mecanismos de falla intrínsecos, el análisis tecnológico puede prepararse para futuros análisis de fallas. Esta especificación técnica se considera una metodología de prueba adecuada cuando se hace referencia a ella en un documento de solicitud. Dichos documentos indicarán las condiciones específicas para su aplicación.

IEC TS 61945:2000 Historia

• 2000 IEC TS 61945:2000 Circuitos integrados - Aprobación de líneas de fabricación - Metodología de tecnología y análisis de fallos