IEC 61000-4-1:2000
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-1: Técnicas de prueba y medición - Descripción general de la serie IEC 61000-4

Estándar No.
IEC 61000-4-1:2000
Fecha de publicación
2006
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 61000-4-1:2006
Ultima versión
IEC 61000-4-1:2006
Alcance
Esta parte 4-1 de IEC 61000 cubre técnicas de prueba y medición para equipos eléctricos y electrónicos (aparatos y sistemas) en su entorno electromagnético. El objetivo de esta parte es brindar asistencia de aplicabilidad a los comités técnicos de IEC u otros organismos, usuarios y fabricantes de equipos eléctricos y electrónicos sobre estándares EMC dentro de la serie IEC 61000-4 sobre técnicas de prueba y medición y brindar recomendaciones generales sobre la elección de pruebas relevantes.

IEC 61000-4-1:2000 Historia

  • 2006 IEC 61000-4-1:2006 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-1: Técnicas de prueba y medición - Descripción general de la serie IEC 61000-4
  • 2006 IEC 61000-4-1:2000 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-1: Técnicas de prueba y medición - Descripción general de la serie IEC 61000-4
  • 1992 IEC 61000-4-1:1992 Compatibilidad electromagnética (CEM); parte 4: técnicas de prueba y medición; sección 1: descripción general de las pruebas de inmunidad; publicación básica de EMC



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