IEEE 1450-1999
Lenguaje de prueba de interfaz estándar (STIL) para vectores de prueba digitales IEEE Computer Society

Estándar No.

IEEE 1450-1999

Fecha de publicación

1999

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE 1450-2007

Ultima versión

IEEE 1450-2007

Alcance

Este proyecto tiene como objetivo definir un lenguaje estándar que a) facilite la transferencia de grandes volúmenes de información de pruebas digitales desde entornos de ingeniería asistida por computadora (CAE) a entornos de equipos de prueba automatizados (ATE); b) especifica información de patrón, formato y temporización suficiente para definir la aplicación de vectores de prueba a un dispositivo bajo prueba (DUT); c) admite la gran cantidad de información de prueba generada a partir de pruebas estructuradas y técnicas de prueba integral para diseños de circuitos integrados a muy gran escala y ultra gran escala en un formato optimizado para el transporte y la aplicación en entornos de equipos de prueba automatizados (ATE); d) admite pruebas de dispositivos para entornos de prueba de circuitos integrados, de muy gran escala y de ultra gran escala, pero no restringe su aplicación a otros entornos de prueba digitales.

IEEE 1450-1999 Historia

• 2007 IEEE 1450-2007 Lenguaje de interfaz de prueba estándar (STIL) para datos vectoriales de prueba digitales (IEEE Computer Society)
• 1999 IEEE 1450-1999 Lenguaje de prueba de interfaz estándar (STIL) para vectores de prueba digitales IEEE Computer Society