DIN 50454-1:2000 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de dislocaciones en monocristales de semiconductores compuestos III-V. Parte 1: Arseniuro de galio.
La norma especifica un método para la revelación de dislocaciones en monocristales, en forma de barra, de especímenes de arseniuro de galio con superficie pulida, grabada pulida o aserrada, orientada en planos cristalinos (111)-Ga y (100) utilizando grabado estructural y la determinación de la densidad en la superficie y la distribución local de estas dislocaciones.#,,#
DIN 50454-1:2000 Historia
2000DIN 50454-1:2000 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de dislocaciones en monocristales de semiconductores compuestos III-V. Parte 1: Arseniuro de galio.