DIN 32877:2000
Medición optoelectrónica de distancia, perfil y forma.

Estándar No.

DIN 32877:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN 32877:2000-08

Ultima versión

DIN 32877:2000-08

Alcance

El documento trata métodos de medición lineal optoelectrónicos. Cubre conceptos y principios de mediciones, define requisitos y prueba de cantidades características.#,,#

DIN 32877:2000 Historia

• 2000 DIN 32877:2000-08 Medición optoelectrónica de distancia, perfil y forma / Nota: A sustituir por DIN 32877-1 (2018-12, t), DIN 32877-2 (2019-12, t).
• 2000 DIN 32877:2000 Medición optoelectrónica de distancia, perfil y forma.