JIS K 0142:2000
Análisis químico de superficies - Formatos de información

Estándar No.

JIS K 0142:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0142:2000

Alcance

Este estándar especifica un formato para complementar JIS K 0141: Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos, y se utiliza para transmitir datos para la construcción, mejora y modificación de bases de datos espectrales de análisis químico de superficies. El formato se aplica a la espectroscopia de electrones de Auger (AES) y a la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).

JIS K 0142:2000 Historia

• 2000 JIS K 0142:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información