IEC 61000-4-6/AMD1:2000
Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Enmienda 1

Estándar No.

IEC 61000-4-6/AMD1:2000

Fecha de publicación

2000

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 61000-4-6:2001

Ultima versión

IEC 61000-4-6:2023 RLV

Reemplazar

IEC 77B/291/FDIS:2000

Alcance

PRÓLOGO Esta enmienda ha sido preparada por el subcomité 77B: Fenómenos de alta frecuencia@ del comité técnico 77 de IEC: Compatibilidad electromagnética. La información completa sobre la votación para la aprobación de esta enmienda se puede encontrar en el informe de votación indicado en el cuadro anterior. El comité ha decidido que el contenido de la publicación base y sus modificaciones permanecerán sin cambios hasta el año 2002. En esta fecha@ la publicación será ? reconfirmado; ? retirado; ? reemplazado por una edición revisada @ o ? modificado.

IEC 61000-4-6/AMD1:2000 Historia

• 0000 IEC 61000-4-6:2023 RLV
• 2015 IEC 61000-4-6:2013/COR1:2015 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Corrección 1
• 2013 IEC 61000-4-6:2013 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia
• 2008 IEC 61000-4-6:2008 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia
• 2006 IEC 61000-4-6/AMD2:2006 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Enmienda 2
• 2006 IEC 61000-4-6:2006 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia
• 2004 IEC 61000-4-6/AMD1:2004 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Enmienda 1
• 2004 IEC 61000-4-6:2004 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia
• 2003 IEC 61000-4-6:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia.
• 2001 IEC 61000-4-6:2001 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia.
• 2000 IEC 61000-4-6/AMD1:2000 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Enmienda 1
• 1996 IEC 61000-4-6:1996 Compatibilite Electromagnetique (CEM) - Parte 4-6: Techniques D'Essai Et De Mesure - Immunite Aux Perturbations Conduites@ Induites Par Les Champs Radioelectriques (Edición 1.0; Incluye Corrigendum 1: 09/1996)

IEC 61000-4-6/AMD1:2000 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia; Enmienda 1 ha sido cambiado a IEC 61000-4-6:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia..