ANSI/IEEE 300:1988
Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores

Estándar No.

ANSI/IEEE 300:1988

Fecha de publicación

1988

Organización

American National Standards Institute （ANSI)

Ultima versión

ANSI/IEEE 300:1988

Alcance

Esta norma se aplica a los detectores de radiación semiconductores que se utilizan para la detección de partículas cargadas mediante espectroscopia de alta resolución.

ANSI/IEEE 300:1988 Historia

• 1988 ANSI/IEEE 300:1988 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores