JIS C 5021:1978
Procedimientos de prueba en frío para componentes electrónicos.

Estándar No.
JIS C 5021:1978
Fecha de publicación
1978
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Estado
Ultima versión
JIS C 5021:1978
 

JIS C 5021:1978 Historia

  • 1978 JIS C 5021:1978 Procedimientos de prueba en frío para componentes electrónicos.

estándares y especificaciones

BS 2011-2.1Z/ABDM:1983 Pruebas ambientales. Pruebas-Test Z/ABDM. Secuencia climática destinada principalmente a componentes BS 2011-2.1Z/AD:1977 Pruebas ambientales. Pruebas-Pruebas Z/AD. Prueba cíclica compuesta de temperatura/humedad IS 9185 Pt.1-1979 PRUEBA DE RESISTENCIA (VIDA) PARA COMPONENTES ELECTRÓNICOS Y ELÉCTRICOS PARTE Ⅰ RESISTENCIA TÉRMICA NF C20-400:1982 Métodos de Prueba Procedimientos Básicos de Pruebas Ambientales Guía para la aplicación de pruebas ambientales a componentes electrónicos NF C93-400:1988 Componentes electrónicos Dispositivos de conexión Procedimientos de prueba básicos y métodos de medición Lista de pruebas SJ 2968-1988 Especificación genérica para filtros de ondas acústicas de superficie (SAW) para uso en equipos electrónicos JIS C 5003:1974 ERTA Procedimiento general de prueba de tasa de fallas de componentes electrónicos BS CECC 00009:1982 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación básica: procedimientos básicos de prueba y métodos de medición BS EN 168101:1997 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: unidades de cristal de cuarzo (aprobación


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