JIS C 5027:1975
Método de prueba de almacenamiento (baja temperatura) para componentes electrónicos

Estándar No.
JIS C 5027:1975
Fecha de publicación
1975
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Estado
Ultima versión
JIS C 5027:1975
 

JIS C 5027:1975 Historia

  • 1975 JIS C 5027:1975 Método de prueba de almacenamiento (baja temperatura) para componentes electrónicos

Temas especiales sobre estándares y normas

Prueba de almacenamiento de temperatura Acerca del período de almacenamiento de componentes Almacenamiento criogénico

estándares y especificaciones

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