ANSI/ASTM E1585:1993 Método de prueba para medir y calcular la emitancia de productos de vidrio plano arquitectónico mediante mediciones espectrométricas
Este método de prueba cubre la determinación de la emitancia normal y hemisférica de una superficie especular. Este método de prueba describe la medición espectrométrica de la reflectancia especular casi normal en el rango del infrarrojo medio de 5 a al menos 25 µm. Incluye los procedimientos de cálculo necesarios para determinar la emitancia normal y hemisférica de dicho objeto. Este método de prueba incluye instrucciones de calibración para el espectrómetro y procedimientos para seleccionar estándares de referencia de reflectancia. Este método de prueba generalmente es adecuado para cualquier muestra plana que refleje el espejo. Se recomienda para medir la emitancia de materiales de acristalamiento arquitectónico como el vidrio (revestido y sin revestir), etc. Este método de prueba no es adecuado para determinar la emitancia de un objeto que es transparente en el rango especificado de radiación infrarroja. Este método de prueba es adecuado para determinar la emitancia de un objeto basándose en la ponderación del cuerpo negro a una temperatura específica (normalmente 23 °C (73 °F)), como sería necesario para determinar el rendimiento térmico (valor U/SC/SHGC). de un conjunto de ventana. Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como estándar. Las unidades pulgada-libra que aparecen entre paréntesis son sólo para información. Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ANSI/ASTM E1585:1993 Historia
1993ANSI/ASTM E1585:1993 Método de prueba para medir y calcular la emitancia de productos de vidrio plano arquitectónico mediante mediciones espectrométricas