ANSI/IEEE 475:2000
Procedimiento de medición estándar para sensores de perturbación de campo de 300 MHz a 40 GHz

Estándar No.
ANSI/IEEE 475:2000
Fecha de publicación
2000
Organización
American National Standards Institute (ANSI)
Ultima versión
ANSI/IEEE 475:2000
Alcance
Se definen los procedimientos de prueba para sensores de perturbaciones de campo de microondas para medir la intensidad del campo radiado de radiofrecuencia (RF) de la frecuencia fundamental, las frecuencias armónicas, la densidad de flujo de potencia del campo cercano y las emisiones espurias no armónicas de sensores que operan dentro del rango de frecuencia de 300 MHz a 40 GHz. .

ANSI/IEEE 475:2000 Historia

  • 2000 ANSI/IEEE 475:2000 Procedimiento de medición estándar para sensores de perturbación de campo de 300 MHz a 40 GHz



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