IEC 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF.
Esta parte de IEC 62132 describe un método para medir la inmunidad de circuitos integrados (IC) en presencia de perturbaciones de RF conducidas, por ejemplo, resultantes de perturbaciones de RF radiadas. Este método garantiza un alto grado de repetibilidad y correlación de las mediciones de inmunidad. Esta norma establece una base común para la evaluación de dispositivos semiconductores utilizados en equipos que funcionan en un entorno sujeto a ondas electromagnéticas de radiofrecuencia no deseadas.
IEC 62132-4:2006 Historia
2006IEC 62132-4:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección directa de potencia de RF.