IEC 61967-4:2002/AMD1:2006
Enmienda 1 - Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 4: Medición de emisiones conducidas - Método de acoplamiento directo 1/150

Estándar No.

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2017-07

Remplazado por

IEC 61967-4:2002/COR1:2017

Ultima versión

IEC 61967-4:2021 RLV

Reemplazar

IEC 47A/735/FDIS:2005

Alcance

Esta norma es la Enmienda 1 - Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 4: Medición de emisiones conducidas - Método de acoplamiento directo 1/150.

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Documento de referencia

• CISPR 16-1-1 Especificación para aparatos y métodos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Parte 1-1: Aparatos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Aparatos de medición.*， 2019-05-22 Actualizar
• CISPR 16-1-2 Especificación para aparatos y métodos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Parte 1-2: Aparatos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Dispositivos de acoplamiento para mediciones de perturbaciones conducidas.*， 2017-11-07 Actualizar
• CISPR 16-1-3 Corrigendum 1 - Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Parte 1-3: Aparatos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Equipo auxiliar - Potencia perturbadora*， 2006-02-09 Actualizar
• CISPR 16-1-4 Enmienda 2 - Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Parte 1-4: Aparatos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Antenas y sitios de prueba para dis radiaciones*， 2023-04-13 Actualizar
• CISPR 16-1-5 Corrigendum 1 - Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Parte 1-5: Aparatos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas - Sitios de calibración de antenas y sitios de prueba de referencia para 5 MHz a 18 GHz*， 2020-08-31 Actualizar

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Historia

• 0000 IEC 61967-4:2021 RLV
• 2017 IEC 61967-4:2002/COR1:2017 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1 Ώ/150 Ώ - Corrigendum 1
• 2006 IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Enmienda 1 - Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 4: Medición de emisiones conducidas - Método de acoplamiento directo 1/150
• 2006 IEC 61967-4:2006 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1/150
• 2002 IEC 61967-4:2002 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas; Método de acoplamiento directo 1/150