NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
Este documento describe los procedimientos para la calibración de la escala de energía utilizada en el análisis elemental mediante espectrometría electrónica de rayos X de resolución media en espiral. El objetivo es garantizar la precisión y la repetibilidad de los resultados obtenidos en este tipo de análisis. Se detallan los requisitos técnicos, los métodos de calibración, los materiales de referencia adecuados y las condiciones de operación necesarias para realizar mediciones confiables. El documento también incluye información sobre la verificación periódica de la calibración y las medidas a tomar en caso de desviaciones. Este estándar proporciona un marco común para la realización de análisis químicos superficiales mediante esta técnica, facilitando la comparación de resultados entre diferentes laboratorios y equipos.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Historia
2006NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.