YS/T 540.6-2006
Métodos para el análisis químico del vanadio. Determinación del contenido de silicio mediante fotometría de extracción de n-butanol. (Versión en inglés)

Estándar No.

YS/T 540.6-2006

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2006

Organización

Professional Standard - Non-ferrous Metal

Estado

 2019-04

Remplazado por

YS/T 540.5-2018

YS/T 540.6-2018

Ultima versión

YS/T 540.5-2018

YS/T 540.6-2018

Reemplazar

GB/T 8639.6-1988

YS/T 540.6-2006 Historia

• 2018 YS/T 540.5-2018 Métodos para el análisis químico de vanadio Parte 5: Determinación de elementos de impureza mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
• 2006 YS/T 540.6-2006 Métodos para el análisis químico del vanadio. Determinación del contenido de silicio mediante fotometría de extracción de n-butanol.

YS/T 540.6-2006 Métodos para el análisis químico del vanadio. Determinación del contenido de silicio mediante fotometría de extracción de n-butanol. ha sido cambiado a GB/T 8639.6-1988 Vanadio--Determinación del contenido de silicio--Método espectrofotométrico de extracción con alcohol N-butílico.

YS/T 540.6-2006 Métodos para el análisis químico del vanadio. Determinación del contenido de silicio mediante fotometría de extracción de n-butanol. ha sido cambiado a YS/T 540.5-2018 Métodos para el análisis químico de vanadio Parte 5: Determinación de elementos de impureza mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.