Esta parte de IEC 62132 proporciona información general y definiciones sobre la medición de la inmunidad electromagnética conducida y radiada de circuitos integrados (CI) a perturbaciones conducidas y radiadas. También proporciona una descripción de las condiciones de medición, el equipo de prueba y la configuración, así como los procedimientos de prueba y el contenido de los informes de prueba. En el Anexo A se incluye una tabla de comparación de métodos de prueba para ayudar a seleccionar los métodos de medición apropiados. Esta norma describe las condiciones generales necesarias para obtener una medida cuantitativa de inmunidad de los circuitos integrados en un entorno de prueba uniforme. Se describen los parámetros críticos que se espera que influyan en los resultados de la prueba. Las desviaciones de esta norma se indican explícitamente en el informe de prueba individual. Los resultados de la medición se pueden utilizar para comparación u otros fines. La medición de los voltajes y corrientes inyectados, junto con las respuestas de los circuitos integrados probados en condiciones controladas, proporciona información sobre la inmunidad potencial del circuito integrado a perturbaciones de RF conducidas y radiadas en una aplicación determinada.
BS EN 62132-1:2006 Documento de referencia
IEC 61000-4-3 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-3: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a campos electromagnéticos, de radiofrecuencia y radiados*， 2020-09-08 Actualizar
IEC 61000-4-6 Compatibilidad electromagnética (CEM). Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición. Inmunidad a las perturbaciones conducidas inducidas por campos de radiofrecuencia.*， 2023-06-06 Actualizar
BS EN 62132-1:2006 Historia
2016BS EN 62132-1:2016 Circuitos integrados. Medida de inmunidad electromagnética. Condiciones generales y definiciones.
2006BS EN 62132-1:2006 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz - Condiciones generales y definiciones