JIS R 1640:2002
Métodos para el análisis de fase cuantitativo del nitruro de silicio.

Estándar No.

JIS R 1640:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS R 1640:2002

Alcance

Esta norma especifica el método de análisis de la composición de fases del nitruro de silicio utilizando un dispositivo de difracción de rayos X.

JIS R 1640:2002 Historia

• 2002 JIS R 1640:2002 Métodos para el análisis de fase cuantitativo del nitruro de silicio.