Esta parte de IEC 61967 proporciona información general y definiciones sobre la medición de perturbaciones electromagnéticas conducidas y radiadas de circuitos integrados. También proporciona una descripción de las condiciones de medición, el equipo de prueba y la configuración, así como los procedimientos de prueba y el contenido de los informes de prueba. Se incluye una tabla de comparación de métodos de prueba como anexo A para ayudar a seleccionar los métodos de medición apropiados. El objeto de esta norma es describir las condiciones generales para establecer un entorno de prueba uniforme y obtener una medida cuantitativa de las perturbaciones de RF de los circuitos integrados (CI). Se describen los parámetros críticos que se espera que influyan en los resultados de la prueba. Las desviaciones de esta norma se indican explícitamente en el informe de prueba individual. Los resultados de la medición se pueden utilizar para comparación u otros fines. La medición del voltaje y la corriente de las emisiones de RF conducidas o las perturbaciones de RF radiadas, procedentes de un circuito integrado en condiciones controladas, proporciona información sobre el potencial de perturbaciones de RF en una aplicación del circuito integrado.
IEC 61967-1:2002 Historia
0000 IEC 61967-1:2018 RLV
2002IEC 61967-1:2002 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Condiciones generales y definiciones.