SAE J1752-1-1997
Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones

Estándar No.

SAE J1752-1-1997

Fecha de publicación

1997

Organización

Society of Automotive Engineers (SAE)

Estado

Remplazado por

SAE J1752-1-2006

Ultima versión

SAE J1752-1-2021

Alcance

Esta práctica recomendada por SAE proporciona información de respaldo para los procedimientos de medición de emisiones e inmunidad definidos en SAE J1752.

SAE J1752-1-1997 Historia

• 2021 SAE J1752-1-2021 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados General y definición
• 2016 SAE J1752-1-2016 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados General y definición
• 2006 SAE J1752-1-2006 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados General y definición
• 1997 SAE J1752-1-1997 Procedimientos de medición de compatibilidad electromagnética para circuitos integrados - Procedimientos de medición de EMC de circuitos integrados - Generalidades y definiciones