QJ 483-1979
Método de prueba para determinar la rigidez dieléctrica de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- QJ 483-1979
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1979
- Organización
- Professional Standard - Aerospace
- Estado
- Remplazado por
- QJ 483-1990
- Ultima versión
- QJ 483-1990
QJ 483-1979 Historia
- 1990 QJ 483-1990 Método de prueba para el voltaje de ruptura de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio
- 1979 QJ 483-1979 Método de prueba para determinar la rigidez dieléctrica de la capa de película anodizada aislante de aluminio y aleación de aluminio.
Temas especiales sobre estándares y normas
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