SJ 20233-1993
Reglamento de verificación del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores modelo IMPACT-II (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 20233-1993

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1993

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

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Ultima versión

SJ 20233-1993

Alcance

Este procedimiento de calibración estipula las condiciones de calibración, los elementos de calibración, los métodos de calibración, el procesamiento de los resultados de la calibración y el ciclo de calibración del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores tipo IMPACT-II. Este procedimiento de calibración es aplicable a la calibración del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores tipo IMPACT-II. Para la verificación del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores tipo IMPACT-III. También puede consultar este procedimiento.

SJ 20233-1993 Historia

• 1993 SJ 20233-1993 Reglamento de verificación del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores modelo IMPACT-II

Temas especiales sobre estándares y normas

estándares y especificaciones