IEC PAS 62500:2006
- Estándar No.
- IEC PAS 62500:2006
- Fecha de publicación
- 2006
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- 2008-07
- Ultima versión
- IEC PAS 62500:2006
- Remplazado por
- IEC/TS 62500:2008
- Alcance
- En un contexto económico cada vez más duro (requisitos de rendimiento más estrictos, ciclos de desarrollo más cortos, costes de propiedad reducidos, etc.), es fundamental garantizar la madurez del producto rápidamente y, en cualquier caso, antes de la puesta en marcha. Para corregir las deficiencias de los métodos de desarrollo tradicionales se han desarrollado pruebas "altamente aceleradas". El principal principio subyacente detrás de este nuevo tipo de estrategia de prueba es el siguiente: en lugar de razonar en términos de conformidad con una especificación y simplemente realizar pruebas convencionales, intentamos por el contrario llevar el producto a sus límites aplicando tensiones ambientales y/o estímulos de niveles superiores a la especificación. Se trata así de aprovechar al máximo las tecnologías actuales, eliminando los defectos que generan posibles fallos, a partir de los primeros prototipos. Un proceso de prueba acelerado bien realizado debería conducir, en un tiempo relativamente corto, a un aumento significativo de la robustez de un producto, ya en la fase inicial de los prototipos al comienzo de la fase de desarrollo, acelerando así la madurez temprana de este producto. Además, la identificación de los márgenes disponibles en un producto "maduro" ayuda a diseñar y dimensionar con mayor precisión su futuro perfil de detección de estrés ambiental, al aumentar la severidad de las cargas aplicadas justo a lo que se necesita, lo que lleva a un aumento particularmente significativo en la eficiencia de este proceso de detección de estrés ambiental.
IEC PAS 62500:2006 Historia
- 2006 IEC PAS 62500:2006
