NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 2: métodos de ensayo de tracción de materiales de película delgada.

Estándar No.

NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006

NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006 Historia

• 2006 NF C96-050-2*NF EN 62047-2:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 2: métodos de ensayo de tracción de materiales de película delgada.