Esta parte de IEC 60444 describe dos métodos para determinar los modos espurios (no deseados) de resonadores de cristal piezoeléctricos. Amplía las capacidades y mejora la reproducibilidad y precisión en comparación con métodos anteriores. Los métodos anteriores descritos en la norma IEC 60283 (1968) se basaban en el uso de un puente de medición, que se aplica a componentes no rastreables, como resistencias variables y un transformador híbrido, que ya no están disponibles comercialmente. Método A (Determinación completa de los parámetros) La determinación completa de los parámetros permite la determinación de los parámetros equivalentes de las resonancias espurias y se basa en los métodos descritos en IEC 60444-5 utilizando el mismo equipo de medición. Es el método preferido, que se puede aplicar a la medición de resonancias espurias de impedancia baja y media de hasta varios kΩ. Método B (Determinación de la resistencia) La determinación de la resistencia debe usarse para la determinación de resonancias espurias de alta impedancia como se especifica, por ejemplo para ciertos cristales de filtro. Utiliza el mismo equipo de prueba que el método A junto con un dispositivo de prueba, que consta de componentes de microondas disponibles comercialmente, como un acoplador híbrido de 180° y un atenuador de 10 dB, que están bien definidos en un entorno de 50 Ω. Este método es una mejora del “método de referencia” de la obsoleta IEC 60283.
BS EN 60444-9:2007 Historia
2007BS EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico