National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China
Ultima versión
JJF 1179-2007
Alcance
Esta especificación se aplica a la calibración de sistemas de envejecimiento dinámico de alta temperatura para circuitos integrados.
JJF 1179-2007 Documento de referencia
GB/T 5170.1-1995 Métodos de inspección de parámetros básicos de equipos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. General
GB/T 5170.2-1996 Métodos de inspección de parámetros básicos de equipos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Equipos de prueba de temperatura.
JJF 1179-2007 Historia
2007JJF 1179-2007 Especificación de calibración del sistema de precintado de CI dinámico de alta temperatura