(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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JEDEC JEP65-1967
Alcance
La temperatura mínima de almacenamiento se basará en la capacidad de cualquier transistor individual para cumplir con la prueba que se describe a continuación.
JEDEC JEP65-1967 Historia
1967JEDEC JEP65-1967 Verificación de clasificaciones máximas de transistores de potencia, procedimientos de prueba para