IEC 62132-3:2007
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Método de inyección de corriente masiva (BCI).
- Estándar No.
- IEC 62132-3:2007
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62132-3:2007
- Reemplazar
- IEC 47A/773/FDIS:2007
- Alcance
- Esta parte de IEC 621 32 describe un método de prueba de inyección de corriente masiva (BCI) para medir la inmunidad de circuitos integrados (IC) en presencia de perturbaciones de RF conducidas, por ejemplo. resultante de perturbaciones de RF radiadas. Este método solo se aplica a circuitos integrados que tienen conexiones de cables externas, e. g.en un mazo de cables.Este método de prueba se utiliza para inyectar corriente de RF en uno o una combinación de cables. Esta norma establece una base común para la evaluación de dispositivos semiconductores que se aplicarán en equipos utilizados en entornos sujetos a señales electromagnéticas de radiofrecuencia no deseadas.
IEC 62132-3:2007 Documento de referencia
- IEC 62132-1:2006 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Condiciones generales y definiciones.
IEC 62132-3:2007 Historia
- 2007 IEC 62132-3:2007 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética, de 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Método de inyección de corriente masiva (BCI).
