BS EN 62132-3:2007
Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz - Método de inyección de corriente masiva (BCI)
- Estándar No.
- BS EN 62132-3:2007
- Fecha de publicación
- 2007
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 62132-3:2007
- Reemplazar
- 03/105045 DC-2003
- Alcance
- Esta parte de IEC 62132 describe un método de prueba de inyección de corriente masiva (BCI) para medir la inmunidad de circuitos integrados (IC) en presencia de perturbaciones de RF conducidas, por ejemplo, resultantes de perturbaciones de RF radiadas. Este método sólo se aplica a los circuitos integrados que tienen conexiones de cables externas, por ejemplo, en un mazo de cables. Este método de prueba se utiliza para inyectar corriente de RF en uno o una combinación de cables. Esta norma establece una base común para la evaluación de dispositivos semiconductores que se aplicarán en equipos utilizados en entornos sujetos a señales electromagnéticas de radiofrecuencia no deseadas.
BS EN 62132-3:2007 Historia
- 2007 BS EN 62132-3:2007 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz - Método de inyección de corriente masiva (BCI)
