IEC 62528:2007 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados normas y especificaciones

Alcance: IEEE Std 1500 ha desarrollado un método estándar de diseño para capacidad de prueba para circuitos integrados (CI) que contienen núcleos integrados no fusionables. Este método es independiente de la funcionalidad subyacente del IC o de sus núcleos integrados individuales. El método crea los requisitos necesarios para la prueba de dichos circuitos integrados, al tiempo que permite una fácil interoperabilidad de núcleos que pueden haberse originado en diferentes fuentes.

IEC 62528:2007 Documento de referencia

IEEE Std 1149.1 Estándar IEEE para puerto de acceso de prueba y arquitectura de escaneo de límites - Redline*， 2013-05-13 Actualizar

2007 IEC 62528:2007 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados