YS/T 244.9-2008
Métodos de análisis químico de aluminio de alta pureza. Parte 9: Determinación de trazas de impurezas en aluminio de alta pureza mediante espectrometría de masas acoplada inductivamente (Versión en inglés)

Estándar No.
YS/T 244.9-2008
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2008
Organización
Professional Standard - Non-ferrous Metal
Estado
 2021-04
Remplazado por
YS/T 870-2020
Ultima versión
YS/T 870-2020
Alcance
Esta parte especifica métodos para la determinación de oligoelementos como hierro, titanio, galio, cobre, zinc, plomo, indio, cadmio, plata, cobalto, molibdeno, antimonio y bismuto en aluminio de alta pureza. Esta sección se aplica al contenido de oligoelementos como hierro, titanio, galio, cobre, zinc, plomo, indio, cadmio, plata, cobalto, molibdeno, antimonio y bismuto en aluminio de alta pureza (99,999% ≤ ω (Al) ≤ 99,9995%) Determinación. El rango de medición se muestra en la Tabla 1.

YS/T 244.9-2008 Historia

  • 2020 YS/T 870-2020 Métodos de análisis químico para aluminio puro Determinación del contenido de elementos de impurezas traza Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
  • 2008 YS/T 244.9-2008 Métodos de análisis químico de aluminio de alta pureza. Parte 9: Determinación de trazas de impurezas en aluminio de alta pureza mediante espectrometría de masas acoplada inductivamente



© 2023 Reservados todos los derechos.