BS EN 61967-4:2002
Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.

Estándar No.
BS EN 61967-4:2002
Fecha de publicación
2002
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS EN 61967-4:2002
Reemplazar
98/232942 DC-1998
Alcance
Esta parte de IEC 61967 especifica un método para medir la emisión electromagnética conducida (EME) de circuitos integrados mediante medición directa de corriente de radiofrecuencia (RF) con una sonda resistiva de 1 Ω y medición de voltaje de RF utilizando una red de acoplamiento de 150 Ω. Estos métodos garantizan un alto grado de repetibilidad y correlación de las mediciones de EME. IEC 61967-1 especifica condiciones generales y definiciones de los métodos de prueba.

BS EN 61967-4:2002 Documento de referencia

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  • CISPR 16-1-2 Especificación para aparatos y métodos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Parte 1-2: Aparatos de medición de perturbaciones radioeléctricas e inmunidad. Dispositivos de acoplamiento para mediciones de perturbaciones conducidas.*2017-11-07 Actualizar
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  • IEC 61967-1 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1: Condiciones generales y definiciones*2018-12-12 Actualizar

BS EN 61967-4:2002 Historia

  • 2002 BS EN 61967-4:2002 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Medición de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo de 1 ohm/150 ohm.



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