Proporciona requisitos y precauciones generales que se aplican a dispositivos semiconductores y cavidades externas. Los métodos de medición descritos tratan de la corriente, la potencia, el pulso, la frecuencia y el ancho del espectro del reflector. Sintonización, histéresis, efecto de modulación del calentador.
IEC 60235-5:1972 Historia
1972IEC 60235-5:1972 Medición de las propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 5: Klistrones osciladores de baja potencia